美国K-micro公司和安立公司合作开发出第一套可以测量10G EPON芯片组的测试方案和测试工具

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篇名	美国K-micro公司和安立公司合作开发出第一套可以测量10G EPON芯片组的测试方案和测试工具
来源期刊	电脑与电信	学科
关键词
年，卷（期）	2009,（12）	所属期刊栏目	新闻链接
研究方向		页码范围	21
页数	1页	分类号
字数	664字	语种	中文
DOI