有孔屏蔽腔屏蔽效能的高次模分析

• 作者: 沈远茂 石丹 高攸纲
• 来源期刊: 电波科学学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 腔体 缝隙 屏蔽效能 偏离中心 高次模
• 年，卷（期）: 2009,（3）
• 页码范围: 510-513
• 页数: 4页
• 分类号: O441
• 字数: 2418字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-0388.2009.03.025

摘要

分析了有孔屏蔽腔的屏蔽效能,将传统的等效传输线分析模型扩展为包含TEmn和TMmn高次模的模型,并用该模型分析了缝隙偏离腔体壁中心的情况,得到了实用性较强的一般公式,该公式将腔体内部的高次模和腔体壁的损耗都考虑在内,在一定程度上消除了频率和腔体尺寸对于以往公式的限制.与其他运用传输线高次模分析腔体屏蔽效能的文献不同,本文中TEmn和TMmn的m和n可为任意值,而不需要采用n=0的假设,这更与腔体中的多种模式相符合.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高攸纲	北京邮电大学电子工程学院	76	552	13.0	20.0
2	沈远茂	北京邮电大学电子工程学院	19	130	7.0	10.0
3	石丹	北京邮电大学电子工程学院	38	158	8.0	10.0