非接触式光学测量设备具有哪些特点？

• 来源期刊: 模具工程
• 学科: 航空航天
• 关键词: 光学测量设备 非接触式 检测过程 CMM 测量员
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 页码范围: 38
• 页数: 1页
• 分类号: V556.5

摘要

在日常检测过程中，往往会碰到一些测量上的困难，比如测量一些薄、易变形或微细的部件，使用传统的卡尺去测量，效果并不理想。纵使拥有资深的测量员配合接触式的精密测量设备如CMM，亦会束手无策。