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摘要:
本文提出一种OFDM调制器的测量模型,该模型可有效地描述OFDM调制器测量系统普遍存在的弱频率选择性,进而在消除弱频率选择性的基础上得到更精确的测量结果.同时针对该模型提出一种测量方法,利用低峰谷比序列作为待测传输序列,从而在测量端可有效消除测量系统弱频率选择性.根据该模型,本文提出将弱频率选择性作为OFDM调制器的一项测量参数,从而更全面地反映OFDM调制器的性能.实际测量表明,本文提出的测量模型和方法可以精确地评估OFDM调制器的性能.
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文献信息
篇名 一种OFDM调制器的测量模型与方法
来源期刊 电子测量与仪器学报 学科 工学
关键词 OFDM调制器 弱频率选择性 低峰谷比序列
年,卷(期) 2009,(z1) 所属期刊栏目 基础理论研究及前沿技术
研究方向 页码范围 15-18
页数 4页 分类号 TN943
字数 1918字 语种 中文
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研究主题发展历程
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OFDM调制器
弱频率选择性
低峰谷比序列
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期刊影响力
电子测量与仪器学报
月刊
1000-7105
11-2488/TN
大16开
北京市东城区北河沿大街79号
80-403
1987
chi
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