质子辐照对防静电热控涂层导电性能影响

• 作者: 丁义刚 冯伟泉 刘宇明 李涛 沈自才 赵春晴 赵雪 郑慧奇
• 来源期刊: 航天器环境工程
• 学科: 物理学
• 关键词: 质子辐照 热控涂层 导电性能 退化机理
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 所属期刊栏目: 空间特殊环境效应研究
• 页码范围: 118-121
• 页数: 4页
• 分类号: O484.4+2|V416.5
• 字数: 3205字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1379.2009.02.004

摘要

文章研究了质子辐照环境对两种防静电热控涂层(ITO/F46/Ag、ITO/OSR/Ag)导电性能的影响,质子总注量选取1×1015p/cm2,并在不同质子注量下对试样表面电阻率进行了原位测量.试验发现,质子辐照下两种防静电热控涂层的表面电阻率均呈指数衰减趋势,且回至大气中出现明显的"恢复效应".对涂层导电性能退化的微观机制进行了分析,并建立了相应导电性能演化规律的简化数学模型,可为新型涂层的研制提供理论依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈自才		57	347	11.0	16.0
2	赵春晴		26	136	6.0	10.0
3	丁义刚		46	369	10.0	17.0
4	郑慧奇		28	115	7.0	9.0
5	刘宇明		38	223	8.0	13.0
6	冯伟泉		51	318	10.0	15.0
7	李涛		33	138	6.0	10.0
8	赵雪		14	88	6.0	8.0