作者:
原文服务方: 电子产品可靠性与环境试验       
摘要:
从软件与硬件的比较、失效的内外原因、失效的主客观原因等方向出发,通过分析软件生命周期各阶段差错的因果联系,研究软件失效的原因.
推荐文章
异常环境下应用软件失效分析
异常环境
失效
应用软件
抗滑桩失效原因分析
抗滑桩
失效
分析
三相全桥电路中功率MOS管失效原因分析
失效模式
MOS
瞬时共同导通
空间碎片失效概率分析软件标准的校验
航天器
空间碎片
风险评估
防护设计
校验
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 软件失效原因分析
来源期刊 电子产品可靠性与环境试验 学科
关键词 软件可靠性 软件失效 原因分析
年,卷(期) 2009,(3) 所属期刊栏目 软件可靠性与评测技术
研究方向 页码范围 13-19
页数 7页 分类号 TP311
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-5468.2009.03.004
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 谢瑞生 中国电子科技集团公司第二十八研究所 3 15 2.0 3.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (0)
节点文献
引证文献  (11)
同被引文献  (15)
二级引证文献  (15)
2009(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
2010(2)
  • 引证文献(2)
  • 二级引证文献(0)
2011(3)
  • 引证文献(2)
  • 二级引证文献(1)
2012(4)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(4)
2014(9)
  • 引证文献(5)
  • 二级引证文献(4)
2015(2)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(1)
2017(1)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(1)
2018(3)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(2)
2019(1)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(1)
2020(1)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(1)
研究主题发展历程
节点文献
软件可靠性
软件失效
原因分析
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
双月刊
1672-5468
44-1412/TN
大16开
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
1962-01-01
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
  • 期刊分类
  • 期刊(年)
  • 期刊(期)
  • 期刊推荐
论文1v1指导