基于康普顿散射的物体厚度测量方法

• 作者: 孙同景 左凯 李振华
• 来源期刊: 山东大学学报（工学版）
• 学科: 工学
• 关键词: X射线 康普顿散射 测量 厚度
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 所属期刊栏目: 控制科学与工程
• 页码范围: 68-71,77
• 页数: 5页
• 分类号: TP115
• 语种: 中文

摘要

针对检测过程中物体衰减系数难以直接获得的实际问题,提出了一种新的测量方法.该方法基于工业CT中的X射线衰减的基本原理,利用高能光子在穿透物体时产生康普顿散射效应的特点,建立了被测物体密度与衰减系数之间的函数关系.基此,通过计算衰减系数,快速、精确的得到被测物体的厚度.仿真实验验证了所提方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李振华		57	459	12.0	20.0
2	孙同景		75	1556	18.0	37.0
3	左凯		4	24	1.0	4.0