纯氧化铝原料及制品中杂质元素的ICP-AES法分析

• 作者: 曹海洁 梁献雷 王本辉 辛凌云
• 来源期刊: 现代科学仪器
• 学科: 工学
• 关键词: 氧化铝 ICP-AES法 杂质元素
• 年，卷（期）: 2009,（3）
• 所属期刊栏目: 分析测试技术和方法
• 页码范围: 66-68
• 页数: 3页
• 分类号: TG146.2
• 语种: 中文

摘要

采用电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)法同时测定纯氧化铝原料及制品中的Si,Fe,Ti,ca,Mg,K,Na等杂质元素.通过试验确定了熔样方法,仪器最佳工作参数,ICP分析条件,分析谱线等.结果表明,样品用四硼酸锂和碳酸锂混合熔剂在1000℃左右的温度下熔融,可以完全分解试样.引进试液中大量锂和基体铝对测定有影响,用基体匹配的方法克服,样品中含量较高的硅、铁和钛元素对低含量元素没有光谱干扰.方法的相对标准偏差(%RSD)小于3%,测定结果与化学分析方法一致.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	辛凌云		15	39	4.0	5.0
2	王本辉		9	35	4.0	5.0
3	梁献雷		7	20	3.0	4.0
4	曹海洁		9	21	3.0	4.0