清除纳米级机械磨损方法

• 来源期刊: 光学精密机械
• 学科: 工学
• 关键词: 机械磨损 纳米级 扫描探针技术 计算机芯片 清除 实用技术 测量能力 科学家
• 年，卷（期）: gxjmjx_2009,（3）
• 页码范围: 9-10
• 页数: 2页
• 分类号: TH117.1

摘要

IBM科学家日前公开展示了一种大有希望的实用技术，该技术能有效消除扫描探针技术中使用的纳米针尖的机械磨损。此一发现将有助于开发出下一代更为先进的计算机芯片，使芯片具有更高性能和更小体积。以扫描探针为基础的工具可超越目前生产和表征工具的可能极限，扩展其测量能力、质量和精度。