紫外成像法检测支柱绝缘子的破损缺陷

• 作者: 何俊佳 何爽 叶会生 尹小根 臧春艳 蒋正龙 赵新杰 雷红才
• 来源期刊: 高压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 紫外成像 绝缘子破损 电晕放电
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 技术讨论
• 页码范围: 87-91,95
• 页数: 6页
• 分类号: TM216
• 字数: 4954字
• 语种: 中文

摘要

绝缘子的破损是一种常见缺陷,会影响绝缘子的绝缘性能.特别是线路上运行的绝缘子破损时,可能会导致线路绝缘水平下降,严重时甚至引起电网事故.但传统线路巡检手段难以检测出这一缺陷.笔者采用新兴的紫外成像检测手段,对110kV线路悬式瓷绝缘子串、瓷支柱绝缘子和硅橡胶复合绝缘子含破损缺陷的情况进行人工模拟.观测了不同环境条件下不同破损程度的绝缘子在破损位置不同时的紫外图像.试验结果表明,紫外成像仪作为一种逐渐得到推广的新型线路巡检设备,能有效地检测到部分绝缘子的破损缺陷,从而达到对线路早期故障进行预防的效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋正龙	湖南省电力公司实验研究院	41	646	15.0	25.0
2	雷红才	湖南省电力公司实验研究院	15	285	8.0	15.0
3	臧春艳	华中科技大学电气与电子工程学院	41	417	10.0	20.0
4	何俊佳		150	2753	27.0	42.0
5	尹小根	华中科技大学电气与电子工程学院	22	611	13.0	22.0
6	叶会生	湖南省电力公司实验研究院	11	106	5.0	10.0
7	何爽	华中科技大学电气与电子工程学院	3	61	2.0	3.0
8	赵新杰	华中科技大学电气与电子工程学院	2	61	2.0	2.0