用于中国古代玉器质地鉴测和溯源中的无损分析方法

• 作者: 干福熹 张朱武 赵虹霞
• 来源期刊: 广西民族大学学报（自然科学版）
• 学科: 历史
• 关键词: 玉石 中国古代玉器 无损分析
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 所属期刊栏目: 中国古代玻璃和玉器研究
• 页码范围: 42-53
• 页数: 12页
• 分类号: K871
• 字数: 10372字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-8462.2009.04.007

摘要

外束质子激发X射线荧光分析法(PIXE)、X射线衍射法(XRD)和激光拉曼光谱技术(LRS)是应用于科技考古研究中的三种无损分析技术,可广泛应用于中国古代整件玉器的无损伤研究.首先介绍了三种无损分析方法的原理、进展和应用,并对透闪石一阳起石型、蛇纹石型、长石型、青金石和绿松石这五种常见玉石进行了无损测试.在此基础上对出土于河南安阳市殷墟和浙江余杭良渚遗址群的156件完整玉器进行了成分、矿相和结构的无损测试,初步研讨了它们的质地和来源.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	干福熹	中国科学院上海光学精密机械研究所科技考古中心	288	2527	23.0	29.0
3	赵虹霞	中国科学院上海光学精密机械研究所科技考古中心	18	217	10.0	14.0
6	张朱武	中国科学院上海光学精密机械研究所科技考古中心	2	32	2.0	2.0