泛华测控传感器测试系统再添新品——角位移传感器测试系统

• 来源期刊: 自动化信息
• 学科: 工学
• 关键词: 角位移传感器 测试系统 测控技术 DUT 温度范围 原始数据 通讯方式 验证测试
• 年，卷（期）: zdhxx_2009,（3）
• 页码范围: 17
• 页数: 1页
• 分类号: TP212

摘要

2009年2月，北京中科泛华测控技术有限公司在深耕传感器测试领域又推出了新品——角位移传感器测试系统。该系统主要用于磁感式角位移传感器的校准和终检测试。角位移传感器测试系统可在稳定的环境温度范围内，采用通讯方式获取DUT原始数据，并对DUT进行校准和编程，最后测量DUT的输出信号进行验证测试。