5m法暗室的NSA测试方法研究

• 作者: 姜超
• 来源期刊: 中国制造业信息化
• 学科: 工学
• 关键词: 电波暗室 归一化场地衰减 扫频法 场地衰减
• 年，卷（期）: 2009,（11）
• 所属期刊栏目: 智能控制技术
• 页码范围: 44-46
• 页数: 3页
• 分类号: TM93
• 字数: 2686字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-1616.2009.11.012

摘要

介绍了电波暗室性能的评估指标归一化场地衰减(NSA),并对电波暗室作了阐述.为了能够快速准确地测量出归一化场地衰减,在3m法暗室和10m法暗室性能评估指标的测试方法的基础上,制定了2种5m法暗室归一化场地衰减的测试方法并进行了测试.最后对测试结果做了分析,并提出一些建议.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姜超	东南大学机械工程学院	2	4	1.0	2.0