泛华测试系统新品——角位移传感器测试系统

• 来源期刊: 世界仪表与自动化
• 学科: 工学
• 关键词: 角位移传感器 测试系统 测控技术
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 页码范围: 66
• 页数: 1页
• 分类号: TP212

摘要

今年2月，北京中科泛华测控技术有限公司在传感器测试领域推出新品——角位移传感器测试系统。该系统主要用于磁感式角位移传感器的校准和终检测试。