低压智能断路器中的单片机系统电磁兼容分析

• 作者: 张应林
• 来源期刊: 电工电气
• 学科: 工学
• 关键词: 低压智能断路器 单片机 电磁兼容试验 电磁干扰 影响 措施
• 年，卷（期）: 2009,（11）
• 所属期刊栏目: 设计与研究
• 页码范围: 10-13,18
• 页数: 5页
• 分类号: TM561
• 字数: 5755字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-3175.2009.11.003

摘要

介绍了低压智能断路器中的单片机系统电磁兼容的试验项目和电磁干扰对断路器单片机系统的主要影响,分析了切换瞬态过程的各种类型瞬变骚扰源的抗干扰能力,静电放电抗干扰能力及单片机硬件、软件抗干扰能力,并提出抗干扰解决措施.设计系统软、硬件时,只有二者兼顾,相互结合、补充才能达到较好的抗干扰效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张应林		5	3	1.0	1.0