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摘要:
叙述了用平面工艺技术制备大面积Si带电粒子探测器的工艺方法.为了减小探测器的漏电流,采用了表面钝化技术.文章分别给出了厚度300μm、灵敏区直径20mm以及厚度500μm、灵敏区直径40mm探测器在室温下漏电流测量结果,以及探测器在室温条件下对241Am 5.486Mevα粒子的能谱响应测量结果.
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文献信息
篇名 大面积平面工艺Si带电粒子探测器研制
来源期刊 核电子学与探测技术 学科 工学
关键词 平面工艺技术 大面积si带电粒子探测器 能量分辨率
年,卷(期) 2009,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 466-469
页数 4页 分类号 TL814
字数 1429字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.0258-0934.2009.02.057
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘洋 19 27 3.0 5.0
2 张万昌 3 16 2.0 3.0
3 孙亮 2 8 1.0 2.0
4 黄小健 7 17 3.0 4.0
5 陈国柱 2 2 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
平面工艺技术
大面积si带电粒子探测器
能量分辨率
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
核电子学与探测技术
双月刊
0258-0934
11-2016/TL
大16开
北京市经济技术开发区宏达南路3号
1981
chi
出版文献量(篇)
5579
总下载数(次)
9
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