ICP-AES用于硅溶胶中杂质元素的直接测定

• 作者: 何品刚 吴冬梅 屈海云 王安宝 陈奕睿
• 来源期刊: 光谱实验室
• 学科: 化学
• 关键词: 电感耦合等离子体-原子发射光谱法 硅溶胶 杂质 直接进样
• 年，卷（期）: 2009,（2）
• 页码范围: 383-386
• 页数: 4页
• 分类号: O657.31
• 字数: 2136字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-8138.2009.02.057

摘要

通过直接称取适量硅溶胶样品稀释于水中,采用超声配制成悬浮液,无需加入额外的分散剂,然后直接进样进行ICP-AES分析,将所获得的结果与传统的样品处理方法所获得的测定结果进行比较,发现两种不同样品处理方法得到的分析结果相一致.该方法无需消解样品,避免了腐蚀性酸的使用,降低了对环境的危害,同时减少了预处理过程.方法的回收率在92%-103%之间,且具有良好的准确度和精密度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何品刚	华东师范大学化学系	100	1104	18.0	30.0
2	王安宝	中国科学院上海硅酸盐研究所	13	62	4.0	7.0
3	陈奕睿	中国科学院上海硅酸盐研究所	6	6	2.0	2.0
4	屈海云	中国科学院上海硅酸盐研究所	13	44	4.0	6.0
5	吴冬梅	中国科学院上海硅酸盐研究所	3	15	3.0	3.0