单色仪转角重复精度的相位板衍射准直方法测量

• 作者: 严睿 巩志华 王勇 邰仁忠 陈敏
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 测量 相位板 衍射准直 平面光栅单色仪
• 年，卷（期）: 2009,（10）
• 所属期刊栏目: 仪器,测量与计量
• 页码范围: 2813-2817
• 页数: 5页
• 分类号: TN741.1+4
• 字数: 3436字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/AOS20092910.2813

摘要

为准确测量上海光源软X射线谱学显微光束线采用的变包含角平面光栅单色仪的转角重复精度,提出了一种新的基于相位板衍射准直技术的测量方法.该方法将半导体激光单模光纤和相位板衍射准直技术结合起来,利用面阵CCD采集图像,通过测量光斑的位移变化确定平面镜和光栅的角度变化.实验表明.该方法可以测量掠入射情况下单色仪联动时的转角重复精度,测量精度可达士0.1",此测量精度优于同等实验条件下的商用ELCOMAT 3000自准直仪的测量精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王勇	中国科学院上海应用物理研究所	507	5142	33.0	48.0
2	陈敏	中国科学院上海应用物理研究所	152	2213	23.0	42.0
3	严睿	中国科学院上海应用物理研究所	17	20	3.0	4.0
4	邰仁忠	中国科学院上海应用物理研究所	22	55	5.0	6.0
5	巩志华	中国科学院上海应用物理研究所	1	5	1.0	1.0