面向最大串扰噪声的测试生成方法

• 作者: 张旻晋 李华伟 李晓维
• 来源期刊: 计算机辅助设计与图形学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 串扰 集成电路测试 测试生成 最大可满足问题
• 年，卷（期）: 2009,（4）
• 所属期刊栏目: VLSI设计与测试及电子设计自动化
• 页码范围: 448-453
• 页数: 6页
• 分类号: TP303
• 字数: 5754字
• 语种: 中文

摘要

随着特征尺寸进入纳米尺度,相邻连线之间的电容耦合对电路的影响越来越大,并可能使得电路在运行时失效.为此提出一种面向受害线上最大串扰噪声的测试生成方法,该方法基于多串扰脉冲故障模型,能够有效地模型化故障并生成合适的向量.为了能够激活尽可能多的侵略线以造成受害线上的最大脉冲噪声,首先将测试生成问题转化为一个加权的最大可满足问题,再使用解题器求解,以得到测试向量;此外,将子通路约束加入到可满足问题的描述之中,以保证所有被激活的侵略线能够同时跳变.针对ISCAS89电路的实验结果显示,文中方法适用于较大规模电路的串扰噪声测试,并且具有可接受的运行时间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李华伟	中国科学院计算机系统结构重点实验室	55	595	14.0	22.0
5	李晓维	中国科学院计算机系统结构重点实验室	127	1467	20.0	32.0
9	张旻晋	中国科学院计算机系统结构重点实验室	2	12	2.0	2.0