电致发光成像在晶体硅电池和组件质量监测中的应用

• 作者: 张豪 杨畅民 黄国锋
• 来源期刊: 中国建设动态：阳光能源
• 学科: 工学
• 关键词: 电致发光成像 晶体硅电池 缺陷检测
• 年，卷（期）: 2009,（6）
• 页码范围: 42-43
• 页数: 2页
• 分类号: TM914.4

摘要

本文根据晶体硅光伏电池的电致发光成像理论，采用红外相机拍摄观测晶体硅光伏电池的电致发光图像。，在大量实验中选取了一些典型图像，如硅片材料内在缺陷，烧结、污染、刻蚀引入的缺陷以及短路、裂纹、断栅等缺陷。实验结果表明，电致发光成像检测方法结合I—V测试方法，可以更快速、准确地找到缺陷位置及判定缺陷类型、成因，对监测晶体硅光伏电池及组件的生产工艺具有重要意义。