氩气Z箍缩内爆等离子体温度诊断

• 作者: 施军 杨礼兵 王洪建 肖沙里 蔡红春 黄显宾
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: Z箍缩 X射线光谱 等离子体 电子温度
• 年，卷（期）: 2009,（8）
• 所属期刊栏目: 现代应用光学
• 页码范围: 1819-1824
• 页数: 6页
• 分类号: O434.13|TL65
• 字数: 3462字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1004-924X.2009.08.006

摘要

为了诊断Z箍缩等离子体电子温度,研究了氩的双电子伴线与类氦共振线的强度比和等离子体电子温度的关系.利用椭圆弯曲晶体谱仪在"阳"加速器上探测X射线光谱,采用X射线胶片接收信号.针对谱仪获取的氩的类氦谱线及类锂伴线,计算了伴线k与共振线w的强度比以及伴线j与禁戒谱线z之和与共振线强度比,利用伴线与共振线强度比值和等离子体电子温度的关系诊断出电子温度为960～1 060 keV,实验结果证明谱线强度比值法是一种探测电子温度很有效的诊断方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖沙里	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	123	988	14.0	24.0
2	王洪建	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	17	109	7.0	9.0
3	黄显宾	中国工程物理研究院流体物理研究中心	31	82	5.0	7.0
4	杨礼兵	中国工程物理研究院流体物理研究中心	28	123	7.0	8.0
5	施军	重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室	23	105	7.0	9.0
6	蔡红春	中国工程物理研究院流体物理研究中心	12	36	3.0	5.0