Z箍缩等离子体X射线椭圆弯晶谱仪

• 作者: 周少彤 张思群 施军 杨礼兵 王洪建 肖沙里 蔡红春 钱家渝 黄显宾
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 工学
• 关键词: 光学器件 等离子体光谱学 椭圆弯晶谱仪 Z箍缩 X射线
• 年，卷（期）: 2009,（1）
• 所属期刊栏目: 实验技术与元件
• 页码范围: 115-118
• 页数: 4页
• 分类号: TH744.15|O434.13
• 字数: 1884字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/CJL20093601.0115

摘要

为了测量Z箍缩等离子体X射线的空间分辨光谱,利用椭圆聚焦原理,研制了一种椭圆晶体谱仪.以Si(111)椭圆弯晶作为色散分析元件,椭圆的离心率为0.9480,焦距为1348 mm,布拉格角范围为30°～54°,谱线探测角范围为54°～103°,探测的波长范围为0.31～0.51 nm.设计了半径为50 mm的半圆型胶片暗盒,内装胶片接收光谱信号.分析了椭圆的弥散度对光谱分辨率的影响.在"阳"加速器装置上进行摄谱实验,胶片成功获取了氩喷气等离子体X射线的跃迁光谱,实测谱线分辨率(λ/Δλ)达300～500,波长与理论值吻合.