软X射线连续谱Z箍缩铝等离子体电子温度诊断

• 作者: 吴刚 吴坚 李沫 王亮平 邱孟通 郭宁 雷天时 韩娟娟
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: Z箍缩 连续谱 电子温度 等离子体 弯晶谱仪
• 年，卷（期）: 2012,（10）
• 所属期刊栏目: 脉冲功率技术
• 页码范围: 2493-2496
• 页数: 4页
• 分类号: O536
• 字数: 3040字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/HPLPB20122410.2493

摘要

针对“强光一号”加速器(约1.5 MA,80～100 ns)Z箍缩铝丝阵实验设计和研制了一套弯晶谱仪,采用邻苯二甲酸氢铊(TlAP)晶体对辐射能谱进行色散,用X射线胶片记录连续辐射谱型,谱仪测谱范围为1.8～3.0 keV.以第10084发次平面型铝丝阵负载实验为例,获得了具有轴向分辨的时间积分辐射谱型,对其中某一热斑处的数据进行处理得到了该区域等离子体时间积分电子温度约为520(1±35％)eV.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王亮平		42	249	9.0	13.0
2	郭宁		17	81	6.0	7.0
3	李沫		3	6	1.0	2.0
4	邱孟通		28	56	4.0	6.0
5	吴坚		5	12	2.0	3.0
6	吴刚		10	33	3.0	5.0
7	韩娟娟		12	49	5.0	6.0
8	雷天时		7	26	3.0	5.0