结构光测量技术中的投影仪标定算法

• 作者: 史玉升 李中伟 王从军 钟凯
• 来源期刊: 光学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 结构光测量 投影仪标定 三维测量 相位移
• 年，卷（期）: 2009,（11）
• 所属期刊栏目: 仪器,测量与计量
• 页码范围: 3061-3065
• 分类号: TN206
• 字数: 1894字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/AOS20092911.3061

摘要

详细介绍了投影机模型,并提出一种简单、高精度的投影仪参数标定算法,该算法将投影仪当作一个逆向的相机,使用一块带有圆形标志点的平面标定板对投影仪进行标定.标定过程中,使用两组不同方向的光栅图像建立投影仪图像和相机图像的对应关系,从而得到投影仪标定所需的图像数据,将投影仪标定转化为成熟的相机标定,然后使用相机标定算法对投影仪进行高精度标定.实验结果表明,所提议的投影仪标定算法操作过程简单,标定精度可达0.312 pixel.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	史玉升	华中科技大学材料成形与模具技术国家重点实验室	217	3141	29.0	44.0
2	王从军	华中科技大学材料成形与模具技术国家重点实验室	78	1100	19.0	29.0
3	李中伟	华中科技大学材料成形与模具技术国家重点实验室	43	499	12.0	21.0
4	钟凯	华中科技大学材料成形与模具技术国家重点实验室	24	187	6.0	13.0