密码系统差分电磁分析研究

• 作者: 丁国良 尹文龙 赵强 郭华 陈利军
• 来源期刊: 计算机工程与设计
• 学科: 工学
• 关键词: 差分电磁分析 电磁信息泄漏 数据相关性 数据加密标准 旁路攻击
• 年，卷（期）: 2009,（12）
• 所属期刊栏目: 信息安全技术
• 页码范围: 2892-2894,2898
• 页数: 4页
• 分类号: TP309.7
• 字数: 3464字
• 语种: 中文

摘要

针对AT89C52和P89C668两种单片机实现的DES密码系统,采用差分电磁分析的方法对其进行了密码破译实验,成功获得了DES第16轮48位子密钥.分析了CMOS门电路中数据与电磁辐射的相关性,建立了寄存器电磁信息泄漏模型,比较了汉明重量模型和汉明距离模型的攻击效果.实验结果表明,CMOS集成电路在工作时存在着电磁信息泄漏,不同的指令在两种泄漏模型下具有不同的泄漏特征,为密码系统实施相关防护措施提供了依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁国良	军械工程学院计算机工程系	58	277	9.0	12.0
2	赵强	军械工程学院计算机工程系	70	443	11.0	15.0
3	郭华	军械工程学院计算机工程系	6	17	3.0	4.0
4	尹文龙	军械工程学院计算机工程系	28	73	5.0	6.0
5	陈利军	军械工程学院计算机工程系	14	48	4.0	6.0