关于I2C总线死锁恢复的研究

• 作者: 韩琳
• 来源期刊: 科技创业月刊
• 学科: 工学
• 关键词: I2C 死锁 恢复
• 年，卷（期）: 2009,（10）
• 所属期刊栏目: 信息与工程
• 页码范围: 214-215
• 页数: 2页
• 分类号: TM1
• 字数: 2101字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-2272.2009.10.109

摘要

介绍了I2C总线的基本原理.详细分析了I2C总线死锁现象产生的原因,提出了总线死锁恢复的各种解决方法.并就每一种方法进行了仔细的研究,比较了各种方法的优点以及局限性,对I2C总线可用性设计提出了指导.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩琳		17	32	3.0	5.0