2n周期二元序列的2位置错误谱

• 作者: 吴学慧 李攀科 牛志华
• 来源期刊: 计算机工程与设计
• 学科: 工学
• 关键词: 流密码 周期序列 线性复杂度 k错线性复杂度 k位置错误谱
• 年，卷（期）: 2009,（17）
• 所属期刊栏目: 信息安全技术
• 页码范围: 3957-3958,4114
• 页数: 3页
• 分类号: TP309
• 字数: 2972字
• 语种: 中文

摘要

K错线性复杂度描述了k个位置发生变化后序列的线性复杂度的最小值,反映了序列的稳定性.但k错线性复杂度不能全面反映序列的稳定性,所以对k位置错误谱进行了研究,加深对k错线性复杂度的理解,更好得反映序列的稳定性.一般认为k错线性复杂度低的序列是不稳定的,不适合作为密钥序列,但是有的序列只有在改变某些位置才会引起线性复杂度的下降,k位置错误谱描述了错误位置的不同对线性复杂度的影响.主要是研究周期为2n的二元序列,发现这类序列线性复杂度的2位置错误谱的一些特征.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	牛志华	上海大学计算机工程与科学学院	13	63	4.0	7.0
4	吴学慧	上海大学计算机工程与科学学院	3	22	2.0	3.0
5	李攀科	上海大学计算机工程与科学学院	1	0	0.0	0.0