基于步进自适应算法的继电器智能测试系统

• 作者: 冯晓 李效白 郁进明
• 来源期刊: 中国科技信息
• 学科: 工学
• 关键词: 电磁继电器 AEM微控制器 步进自适应算法 智能测试系统
• 年，卷（期）: 2009,（13）
• 所属期刊栏目: 制造
• 页码范围: 142-143
• 页数: 2页
• 分类号: TM5
• 字数: 2358字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-8972.2009.13.073

摘要

通过对电磁继电器工作原理的分析.针对继电器测试器的功能需求以及现在市场上测试方案的缺陷分析,提出了以ARM微控制器为核心,辅以步进自适应算法的智能测试系统的设计思路.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯晓	东华大学信息科学与技术学院	4	11	2.0	3.0
2	郁进明	东华大学信息科学与技术学院	17	32	3.0	4.0
3	李效白	东华大学信息科学与技术学院	3	12	2.0	3.0