基于Windows CE的2M综合数字测试仪的设计与实现

• 作者: 张杰 黄俊
• 来源期刊: 电脑知识与技术：学术交流
• 学科: 工学
• 关键词: 比特误码率 比特误码率测试仪(BERT) 低功耗 WINDOWS CE ARM
• 年，卷（期）: 2009,（3X）
• 页码范围: 2273-2274
• 页数: 2页
• 分类号: TP274.4

摘要

基于ARM内核和Windows CE操作系统的2M综合数字测试仪可以对2M传输线路完成50b/s到2048kb/s速率的误码测试,可进行在线监测、离线监测、2M信号眼图测试,对数据进行详细分析,解决了误码统计和误码测试,以及误码率的计算等关键问题。这是一款体积小、重量轻、成本低、性能稳定的低速率误码测试仪。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄俊	重庆邮电大学通信网与测试技术重点实验室	128	387	9.0	12.0
2	张杰	重庆邮电大学通信网与测试技术重点实验室	48	199	7.0	13.0