高加速试验(HAT)在专用设备2号机研制中的应用

• 作者: 吴建军 李平 白古拉夫 苏深坚
• 来源期刊: 核标准计量与质量
• 学科: 工学
• 关键词: 高加速试验 质量 可靠性
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 页码范围: 32-35
• 分类号: TL5
• 字数: 2960字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-453X.2010.02.007

摘要

高加速试验(简称HAT)是一项新兴的可靠性试验技术,在提高产品质量和可靠性以及缩短研制周期方面具有重要作用.在专用设备2号机研制中也应用了高加速试验方法.试验表明,高加速试验可以快速激发设备潜在的缺陷,及时发现问题,为改进设计指出方向.通过高加速试验及改进设计,专用设备2号机的质量明显提高.同时,也对高加速试验提高设备质量和可靠性以及缩短研制周期的作用和特点进行了一些比较说明.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴建军		11	64	5.0	7.0
2	李平		2	1	1.0	1.0
3	苏深坚		2	1	1.0	1.0
4	白古拉夫		1	1	1.0	1.0