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高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术综述
高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术综述
原文服务方：
电子产品可靠性与环境试验
摘要：
高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术是近几年不断发展起来的可靠性新技术.就HALT&HASS技术与传统的可靠性试验进行比较,重点阐述HALT＆HASS的概念、特点以及测试步骤和注意事项.
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文献信息
| 篇名 | 高加速寿命试验和高加速应力筛选试验技术综述 | ||
| 来源期刊 | 电子产品可靠性与环境试验 | 学科 | |
| 关键词 | 高加速寿命试验 高加速应力筛选试验 可靠性试验 | ||
| 年，卷（期） | 2011,（4） | 所属期刊栏目 | 综述与愿望 |
| 研究方向 | 页码范围 | 58-62 | |
| 页数 | 分类号 | TB24 | |
| 字数 | 语种 | 中文 | |
| DOI | 10.3969/j.issn.1672-5468.2011.04.013 | ||
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期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位：
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期：
双月刊
ISSN：
1672-5468
CN：
44-1412/TN
开本：
大16开
出版地：
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号：
创刊时间：
1962-01-01
语种：
中文
出版文献量（篇）
2803
总下载数（次）
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总被引数（次）
9369
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