电子产品整机高加速寿命试验技术应用分析

• 作者: 邱福来 钟升华
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 高加速寿命试验 整机 故障分析
• 年，卷（期）: 2012,（5）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境试验技术及评价
• 页码范围: 17-20
• 页数: 4页
• 分类号: TB114.37|TB24
• 语种: 中文

摘要

通过对在所设计的高加速寿命试验中不同试验阶段出现的故障进行实例列举与分析,以期有助于生产厂家在达到较高的试验效费比的同时,设计出更成熟的产品,并对同类生产厂家后续相关试验起到实际的借鉴与指导作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邱福来		5	21	3.0	4.0
2	钟升华		2	6	1.0	2.0