电子产品寿命检测中异常数据的检验

• 作者: 彭求实
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 指数分布 寿命检测 电子产品 异常数据
• 年，卷（期）: 2005,（5）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境适应性理论研究
• 页码范围: 10-13
• 页数: 4页
• 分类号: O212.2|TB114.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2005.05.003

摘要

讨论在电子产品的寿命数据中,对同时存在的异常大数据和异常小数据的检验方法,给出了一个明确的判别标准,并以一例说明其应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	彭求实	广东商学院数学系	12	25	3.0	4.0