电子产品寿命评估关键技术的研究

• 作者: 张颖 李辉 温志英 陈华平 鹿文军
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 寿命评估 加速测试 神经网络 灰色理论
• 年，卷（期）: 2013,（2）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境适应性理论研究
• 页码范围: 49-52
• 页数: 4页
• 分类号: TB114.3
• 语种: 中文

摘要

发达经济国家陆续出台针对电子电气产品使用寿命的法规、条例和标准,这些技术壁垒极大地影响了我国电子产品的出口.对寿命评估方法的现状、寿命评估的数学模型以及加速测试的方法进行了详细的分析,并介绍了测试后续预测方法的研究现状.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李辉		25	38	4.0	5.0
2	鹿文军		37	59	5.0	6.0
3	温志英		21	33	3.0	4.0
4	张颖		11	18	3.0	3.0
5	陈华平		8	7	2.0	2.0