电子产品退化失效的BS模型

• 作者: 周伟 孙权 钟征
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 电子产品 可靠性 退化失效 BS模型 金属化膜 脉冲电容器
• 年，卷（期）: 2003,（5）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析技术
• 页码范围: 4-8
• 页数: 5页
• 分类号: TN602|TB114.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2003.05.002

摘要

退化失效的电子产品的寿命试验通常只能得到性能退化的数据,使用传统的方法很难对其可靠性进行评估.考虑到电子产品的退化类似于材料的疲劳,以金属化膜电容器为例,研究了BS模型在电子产品可靠性中的应用.从金属化膜电容器的失效过程推导出了该类型电容器的BS模型,经过计算比较,BS模型对脉冲电容器可靠性的评估要优于Weibull等其它模型.该实例证明BS模型能应用于电子产品的退化失效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙权	国防科技大学系统工程研究所	33	287	10.0	15.0
2	钟征	国防科技大学系统工程研究所	6	38	4.0	6.0
3	周伟	国防科技大学系统工程研究所	12	110	6.0	10.0