电子产品无失效数据时的统计分析

• 作者: 彭求实
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 电子产品 无失效数据 指数分布 失效率 贝叶斯估计
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境适应性理论研究
• 页码范围: 17-20
• 页数: 4页
• 分类号: O212.8|TB114.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2008.01.004

摘要

在电子产品的可靠性寿命试验中,如果产品本身的质量很好,或者受试验时间和费用等条件的限制,则有可能出现"无失效数据"的情况.针对这种情况,引进失效信息,在先验分布为Gamma分布时,对失效率进行了多层Bayes估计,并结合实际问题进行了计算.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	彭求实	广东商学院数学与计算科学系	12	25	3.0	4.0