机载电子产品可靠性定量加速增长试验技术

• 作者: 樊西龙 袁泽谭 赵晓东
• 来源期刊: 航空工程进展
• 关键词: 机载电子产品 加速增长试验 加速因子 可靠性
• 年，卷（期）: 2017,（1）
• 所属期刊栏目: 简报
• 页码范围: 98-104
• 页数: 7页
• 分类号: V240.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.16615/j.cnki.1674-8190.2017.01.015

摘要

传统的可靠性试验在环境与时间上存在不足,已很难满足现代飞机可靠性试验工作的要求.基于故障物理学,通过研究航空电子类机载设备在综合环境应力条件下的故障原因及其分布规律,结合传统可靠性加速试验和增长试验的特点,提出一种可靠性试验的新方法,详细介绍具体的试验方法、试验流程、试验应力、故障处理要求和评估方法等关键技术,并将其应用在受试产品的典型案例中.结果表明:当产品试验时间达到952.4 h时,故障数为0,可以认为该产品以70％的置信度确定产品的平均故障间隔时间已达到25 000 h;本文提出的可靠性试验方法能够有效解决基于环境模拟的传统可靠性试验方法和评估技术不能在短的研制周期内评估高可靠性指标要求的机载设备的工程难题,可以实现加速因子的多样、可控,有效地缩短试验时间,节约试验经费.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	袁泽谭	中国航空工业集团公司第一飞机设计研究院	1	3	1.0	1.0
2	樊西龙	中国航空工业集团公司第一飞机设计研究院	1	3	1.0	1.0
3	赵晓东	中国航空工业集团公司第一飞机设计研究院	3	3	1.0	1.0