航天电子产品可靠性增长试验的关键技术浅述

• 作者: 胡经畲
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 电子产品 可靠性增长 试验 关联故障
• 年，卷（期）: 2001,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性与质量控制
• 页码范围: 24-29
• 页数: 6页
• 分类号: V443
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2001.03.005

摘要

可靠性增长试验是以暴露产品的薄弱环节为出发点,并证明改进措施有效,以达到可靠性增长的目的.文中谈及的可靠性增长试验方案的选择,试验过程中出现故障后试验如何往下进行,以及在试验结果评估中如何处置关联故障等是结合航天工程实践的具体经验总结.对开展好可靠性增长试验具有现实意义,值得借鉴.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡经畲		2	12	2.0	2.0