当前电子产品可靠性试验存在问题探讨

• 作者: 樊建祖
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 电子产品 可靠性试验 不真实问题
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 所属期刊栏目: 专家论坛
• 页码范围: 1-3
• 页数: 3页
• 分类号: TB114.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2006.04.001

摘要

论述了当前一些电子产品可靠性试验中存在不真实的试验过程、试验记录和试验报告(结论)这一尖锐问题.分析了问题产生的人、机、料、法、环原因,指出人的利益观和责任心问题是首要原因,设备问题则是重要原因.探讨了解决问题的途经,提出将可靠性试验作为生产的特殊过程管理,巩固和加强重要产品的监督试验,将解决一些重要设备问题作为新的突破口,一步一步地解决电子产品可靠性试验中存在的不真实问题,不断地提高我国电子产品的可靠性水平.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	樊建祖		2	5	1.0	2.0