电子产品可靠性设计与成本控制

• 作者: 李宗亮
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 可靠性 设计 质量成本
• 年，卷（期）: 2002,（2）
• 所属期刊栏目: 可靠性设计与工艺控制
• 页码范围: 39-42
• 页数: 4页
• 分类号: TN02
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2002.02.010

摘要

介绍了可靠性设计过程涉及的质量控制成本的解决方法,通过对最有可能影响可靠性的电路设计、元器件选用等方面的分析,介绍了在降低可靠性设计成本的基础上更好地解决可靠性问题的一些方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李宗亮		3	5	1.0	2.0