作者:
原文服务方: 电子产品可靠性与环境试验       
摘要:
介绍了高加速极限试验(HALT)与传统的可靠性试验的差异性,以及HALT和高加速应力筛选(HASS)技术及其应用;并对HALT/HASS技术的实施方案,HALT/HASS试验中应注意的问题,以及如何正确地看待HALT/HASS技术在产品研发与生产中的作用等内容进行了综述.
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文献信息
篇名 加速极限试验方法综述
来源期刊 电子产品可靠性与环境试验 学科
关键词 高加速寿命试验 高加速应力筛选 可靠性试验
年,卷(期) 2014,(6) 所属期刊栏目 综述与展望
研究方向 页码范围 57-61
页数 5页 分类号 TB114.37
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-5468.2014.06.011
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王文岳 工业和信息化部电子第五研究所华东分所 7 5 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
高加速寿命试验
高加速应力筛选
可靠性试验
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
双月刊
1672-5468
44-1412/TN
大16开
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
1962-01-01
中文
出版文献量(篇)
2803
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