微波组件产品高加速寿命试验综述

• 作者: 刘中华 晋李华
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 高加速寿命试验 抽样要求 工作极限 破坏极限 试验过程
• 年，卷（期）: 2017,（3）
• 所属期刊栏目: 综述与展望
• 页码范围: 69-73
• 页数: 5页
• 分类号: TB114.37|TN12
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2017.03.014

摘要

微波组件产品被广泛地应用于通信和导航等领域,其可靠性的高低是影响电子装备可靠性的重要因素.高加速寿命试验能够在产品开发的早期识别出产品的设计缺陷和薄弱环节,从而改善产品的可靠性.因此,对微波组件产品的高加速寿命试验方法进行了详细的介绍,对于其高加速寿命试验的正确开展具有一定的指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	晋李华	中国电子科技集团公司第十三研究所	4	0	0.0	0.0
2	刘中华	中国电子科技集团公司第十三研究所	5	20	3.0	4.0