卫星电子组件高加速寿命试验技术

• 作者: 冯伟泉 李树鹏 杨力坡 郑会明 郭秀才 马腾飞
• 来源期刊: 航天器环境工程
• 学科: 航空航天
• 关键词: 高加速寿命试验 步进应力 工作限 破坏限 试验剖面 电路盒
• 年，卷（期）: 2011,（5）
• 所属期刊栏目: 地面试验及测试技术
• 页码范围: 454-458
• 页数: 5页
• 分类号: V416.5
• 字数: 4318字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1379.2011.05.010

摘要

高加速寿命试验(HALT)是一种高效的可靠性试验.通过高加速应力作用,激发产品潜在缺陷变为故障并进行改进,以达到其在使用中几乎不会出现故障的目的.文章阐述了试验的基本原理、试验剖面和失效分析等等,根据航天产品的特点,给出了应力极限确定步骤和温度控制方法,并将该方法在卫星典型电子组件上进行了应用研究.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯伟泉	北京卫星环境工程研究所可靠性与环境工程技术重点实验室	51	318	10.0	15.0
2	郭秀才	北京卫星环境工程研究所可靠性与环境工程技术重点实验室	5	8	2.0	2.0
3	郑会明	北京卫星环境工程研究所可靠性与环境工程技术重点实验室	6	13	2.0	3.0
4	杨力坡	北京卫星环境工程研究所可靠性与环境工程技术重点实验室	5	8	2.0	2.0
5	李树鹏	北京卫星环境工程研究所可靠性与环境工程技术重点实验室	4	11	2.0	3.0
6	马腾飞	北京卫星环境工程研究所可靠性与环境工程技术重点实验室	4	11	2.0	3.0