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电子产品可靠性与环境试验期刊
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加速寿命试验中修正阿伦尼斯加速因子的研究
加速寿命试验中修正阿伦尼斯加速因子的研究
作者:
李传日
李进
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
摘要:
阿伦尼斯(Arrhenius)加速因子常用于可靠性加速寿命试验(ALT)或环境应力筛选(ESS)的温度应力加速寿命模型中,但事实上Arrhenius方程和由其得出的Arrhenius加速因子之间存在着矛盾.本文首先提出这一矛盾,接着从激活能的定义及物理意义进行分析,说明了引起矛盾的原因,并最终得出修正Ar-rhenius加速因子.
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文献信息
篇名
加速寿命试验中修正阿伦尼斯加速因子的研究
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
年,卷(期)
2009,(z1)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
38-42
页数
5页
分类号
TN3
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2009.z1.007
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
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被引次数
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1
李传日
北京航空航天大学工程系统工程系
35
219
9.0
12.0
2
李进
北京航空航天大学工程系统工程系
15
51
4.0
7.0
传播情况
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版权信息
全文
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相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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