结温准确性对GaN HEMT加速寿命评估的影响

• 作者: 刘岩 刘霞美 程晓辉 翟玉卫 郑世棋
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 氮化镓高电子迁移率晶体管 工作寿命 加速寿命试验 阿伦尼斯方程 结温
• 年，卷（期）: 2017,（2）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境适应性理论研究
• 页码范围: 5-9
• 页数: 5页
• 分类号: TN386|TB114.37
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2017.02.002

摘要

通过对阿伦尼斯方程进行研究,指出了结温检测结果的误差将会影响加速寿命试验结果的准确性.根据GaN HEMT加速寿命试验中常用的结温获取方式,分别讨论了采用热阻修正结温和直接测量结温两种方式获取结温对器件寿命评估结果造成的影响.研究了Cree公司GaN HEMT结温测量方法,指出依据显微红外测温结果得到的加速寿命数据与依据有限元仿真得到的加速寿命数据相差近4倍.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑世棋	中国电子科技集团公司第十三研究所	26	25	3.0	3.0
2	翟玉卫	中国电子科技集团公司第十三研究所	32	64	4.0	6.0
3	刘岩	中国电子科技集团公司第十三研究所	28	43	4.0	4.0
4	刘霞美	中国电子科技集团公司第十三研究所	11	15	3.0	3.0
5	程晓辉	中国电子科技集团公司第十三研究所	5	14	3.0	3.0