GaAs器件寿命试验结温测试方法研究

• 作者: 来萍 洪潇 芦忠
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 砷化镓器件 热阻测试 结温
• 年，卷（期）: 2012,（z1）
• 所属期刊栏目: 计量与测试技术
• 页码范围: 118-121
• 分类号: TN386|TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2012.z1.029

摘要

在GaAs器件寿命试验中,器件的性能参数退化与结温密切相关.对于如何确定结温问题进行了研究,介绍了热阻的定义以及目前热阻测试中常用的方法.针对GaAs器件长期使用中出现的参数漂移、输出功率下降等问题,试验设计了4种相关的单机理评价结构,并使用电参数测试法确定出GaAs加速寿命试验中最合适的环境温度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	来萍		7	6	2.0	2.0
5	洪潇		1	0	0.0	0.0
9	芦忠		1	0	0.0	0.0