高过载下电子元器件测试方法研究

• 作者: 张亚 徐建军 李波 顾强 黄运銮
• 来源期刊: 弹箭与制导学报
• 关键词: 特征参数 测试电路 可靠性 高过载
• 年，卷（期）: 2009,（5）
• 所属期刊栏目: 相关技术
• 页码范围: 221-223,226
• 页数: 4页
• 分类号: TN707
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-9728.2009.05.060

摘要

高过载测试电路必须满足高速测试的特点,文中对电阻、电容、电感及二极管等电子元器件的特征参数测试的方法进行了分析,在电子元器件的高过载实验中,设计出了相应的测试电路.通过实验验证了这些测试电路能达到预期的要求,为引信系统在高过载条件下的可靠性分析打下了坚实的基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张亚	中北大学机电工程学院	112	370	8.0	11.0
2	李波	中北大学机电工程学院	40	175	7.0	11.0
3	顾强	中北大学机电工程学院	28	119	7.0	9.0
4	徐建军	中北大学机电工程学院	18	90	5.0	9.0
5	黄运銮	中北大学机电工程学院	3	13	2.0	3.0