高过载环境下轻质电路缓冲保护方法

• 作者: 卢剑平 徐鹏 王燕
• 来源期刊: 探测与控制学报
• 关键词: 高过载 侵彻 存活性 缓冲
• 年，卷（期）: 2015,（6）
• 页码范围: 99-102
• 页数: 4页
• 分类号: TH707
• 语种: 中文

摘要

针对现有高过载冲击过程中电路模块易发生损坏的问题,提出了高过载环境下轻质电路缓冲保护方法,该方法通过泡沫铝和铝壳结合的缓冲结构来增加电路模块的存活性,并通过ANSYS仿真该缓冲结构的缓冲效果,结合空气炮实验验证了该缓冲结构的实用性.仿真验证和试验表明该缓冲结构可以有效吸收高冲击的能量,减小高冲击的峰值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐鹏	中北大学电子测试技术国家重点实验室	61	497	12.0	21.0
2	王燕	中北大学电子测试技术国家重点实验室	76	358	10.0	15.0
3	卢剑平	中北大学电子测试技术国家重点实验室	3	16	2.0	3.0