功率晶体管结温测量与器件筛选条件拟定

• 作者: 孔学东 张奕轩
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 功率晶体管 结温测量 器件筛选 红外热像仪
• 年，卷（期）: 2007,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析技术
• 页码范围: 11-14
• 页数: 4页
• 分类号: TN323+.4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2007.03.004

摘要

概述了功率晶体管结温测量的意义及常用的双极晶体管模型.常用的结温测量方法有两种:红外扫描法和热敏参数法.由于热敏参数法只能得到器件的平均结温,不能用于准确地评价电子器件的可靠性,因此,红外扫描法优于热敏参数法.红外扫描法用于拟定器件筛选条件时必须满足3个必要条件,这样既不会发生应力不足,又能避免过应力失效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孔学东		16	184	6.0	13.0
2	张奕轩	广东工业大学材料与能源学院	2	8	2.0	2.0