不同沿海仓储条件下晶体管寿命的比较与分析

• 作者: 张小玲 果朦 谢雪松 霍玉倩
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 寿命 贮存 晶体管 沿海
• 年，卷（期）: 2018,（2）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境试验技术及评价
• 页码范围: 15-20
• 页数: 6页
• 分类号: TN322+.8
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2018.02.004

摘要

寿命是衡量半导体器件的重要指标,主要对贮存在不同海域的晶体管的寿命差异及产生这种差异的原因进行了分析.对沿海仓储条件下的晶体管的各项参数进行了测试及分析,外推出其寿命,并对影响其寿命的相关因素进行了分析.通过对实际贮存在不同海域的晶体管进行测试及寿命的外推,得出了贮存在旅顺、 舟山、 湛江的晶体管的平均寿命分别为1.4×105 h(15.9年)、2.8×105 h(31.9年)、1.5×105 h(约17年).分析得出的结论是:太阳辐射最大强度和年辐射总量是影响晶体管寿命的最关键因素,温度亦是决定晶体管寿命长短的关键因素,而盐雾浓度和湿度则相互作用对晶体管的寿命也有一定的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢雪松	北京工业大学微电子学院	66	554	14.0	20.0
2	张小玲	北京工业大学微电子学院	69	447	11.0	18.0
3	果朦	北京工业大学微电子学院	2	0	0.0	0.0
4	霍玉倩	北京工业大学微电子学院	1	0	0.0	0.0